超低频电缆老化试验
在潮湿的介质中，在电场强度比较低的条件下，经过电场的长时期作用，绝缘 层里会产生树枝，在树枝的扩展过程观测不到放电，因此称为水树枝。水树枝产生 后会缓慢地生长和壮大，一般为 6-15 年。而水树枝转换为电树枝后，电缆将可能在 几周到几个月内击穿，对电缆运行的可靠性是一个致命的打击。因此，解决这一难 题需要由专业的状态评价设备来完成。
MV34-VLF 电缆介质损耗状态检修测试系统是 21 世纪瑞士 onsite 为国际电力电 缆运行和状态检修单位用心研制的电缆绝缘老化评估和状态诊断领先仪器。该仪器 全面满足 IEEE400-2013《有屏蔽层电力电缆系统绝缘层现场型试验与评估导则》国 际标准，支持现场自动生成测试报告和介损评估曲线。特别是该系统吸收了国际同 领域先进技术优势，高压侧采样，介损测试分辨率高达十万分之一，是最接近电缆 介损真值的领先测试技术。
超低频电缆老化试验判定依据与评估
电缆进行超低频介损测试，分成三个电压步骤：0.5Uo，1.0Uo 和 1.5Uo，每相按顺序单独测
试。
电缆超低频介损测试电压
在每个电压水平下，分别测量 8 个介质损耗（TD）数值。测量结果需要给出 TD 平均值，TD
差值和 TD 标准偏差。下图给出 TD 测试的实际例子。
电缆超低频介损测试结果
测试结果应根据 IEEE400.2(2013)标准进行评估。评估结果将电缆状态分为三类：
无需采取检修行动 (No action required)
建议关注跟踪测试(Further study advised)
立即采取检修行动 (Action required)
